Abstract

DELGADO-JIMENEZ, Lilliana; CHACON-VARGAS, Sofía; SABATER-PIQUERES, Carlos  and  SAENZ-ARCE, Giovanni. Medidas topográficas em superfícies atomicamente planas em condições ambiente através de um microscópio de tunelamento quântico, um enfoque didático. Uniciencia [online]. 2019, vol.33, n.1, pp.30-42. ISSN 2215-3470.  http://dx.doi.org/10.15359/ru.33-1.3.

Um dos grandes avanços na nanotecnologia foi o desenvolvimento do microscópio de tunelamento quântico, ferramenta que tem permitido a manipulação de átomos, moléculas, o estudo do transporte eletrônico em um só átomo, e inclusive, a obtenção de imagens de precisão atómica em superfícies eletricamente condutoras. Neste artigo descrevemos o microscópio de tunelamento quântico, seu funcionamento, uma metodologia de calibração e como medir topografia de superfícies planas com uma resolução atômica em condições ambiente. Tudo isso desde um ponto de vista didático para os novos usuários ou pesquisadores não familiarizados com a técnica. Dependendo do tipo de medida e calibração, foram usadas dos tipos de amostras condutoras, o ouro orientado na direção cristalográfica (111) e o grafite pirolítico altamente orientado (HOPG).

Keywords : microscopia de tunelamento quântico; calibração; superfícies; Au (111); HOPG.

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